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fis-15	Guagliano, Mario	L’applicazione della diffrattometria dei raggi X per l’analisi del cedimento dei componenti meccanici	2013	11	.pdf	application/pdf	5426	293	65	E’ immediato dedurre che sussiste una relazione lineare tra εφΨ e sen2Ψ e che σφ è la pendenza della retta divisa per (1+υ)/E. Ciò significa che è possibile determinare il valore di σφ eseguendo più misure con differenti angoli di incidenza Ψ. Questa è la procedura più comunemente e- seguita per la misura degli sforzi residui con la XRD. Variando l’angolo ψ di incidenza tra il fascio di raggi X e la superficie oggetto della misura, si interessano alla mi- sura differenti grani cristallini.	cache/fis-15.pdf	txt/fis-15.txt